OdprtoObvestilo o naročiluBlago🇪🇺 Sredstva EUTED 108/2026

Nabava in dobava opreme za Center za analitiko trdnih snovi

Objava (UL EU)

5. jun. 2026

Rok za oddajo ponudb

3. jul. 2026

Trajanje pogodbe

21.7 mesecev

Vrsta postopka

Odprti postopek

Sklopi

5

Sedež naročnika

Maribor (2000) — SI032

Opis

Javno naročilo zajema nabavo in dobavo opreme za vzpostavitev in nadgradnjo vrhunske raziskovalne infrastrukture za analitiko trdnih snovi, namenjene podpori, razvoju in proizvodnji kritičnih tehnologij na področju biotehnologije, biofarmacije in sorodnih naprednih panog. Javno naročilo je razdeljeno na pet (5) sklopov, in sicer: sklop 1: Sistem masne spektrometrije sekundarnih ionov visoke ločljivosti (Orbitrap SIMS), sklop 2: Oprema za rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo za delo pri skoraj atmosferskem tlaku (NAP-XPS), sklop 3: Popolnoma avtomatiziran multi-analizni UHV-sistem za analiziranje površin in mejnih plasti, sklop 4: Oprema za tridimenzionalno karakterizacijo površin, optično slikanje ter elementno analizo materialov, sklop 5: Sistem za nano in mikro infrardečo mikroskopijo. Podrobnejša specifikacija javnega naročila, roki dobave oziroma izvedbe in ostale zahteve so razvidne iz priloge »Tehnične specifikacije« (za sklope 1, 2, 3, 4 in 5) – mapa »14_A_TS_sklopi 1-5«, vzorca pogodbe ter predmetnih Navodil ponudnikom za pripravo ponudbe. Pogodba za predmet javnega naročila bo sklenjena pod odložnim pogojem. Odložni pogoj je izpolnjen in pogodba začne učinkovati, ko naročnik sklene pogodbo o sofinanciranju. Če se odložni pogoj ne izpolni v roku enega leta od pravnomočnosti odločitve o oddaji javnega naročila, se šteje, da je pogodba razvezana.

CPV kode

3800000038430000384330003843310038510000

Sklopi (5)

LOT-0001Sistem masne spektrometrije sekundarnih ionov visoke ločljivosti (Orbitrap SIMS)

kot izhaja iz dokumentacije v zvezi z oddajo javnega naročila

380000003843310021.7 mesecev

Merila za oddajo

Kot izhaja iz dokumentacije v zvezi z oddajo javnega naročila
LOT-0002Oprema za rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo za delo pri skoraj atmosferskem tlaku (NAP-XPS)

kot izhaja iz dokumentacije v zvezi z oddajo javnega naročila

380000003843300015.5 mesecev

Merila za oddajo

kot izhaja iz dokumentacije v zvezi z oddajo javnega naročila.
LOT-0003Popolnoma avtomatiziran multi-analizni UHV-sistem za analiziranje površin in mejnih plasti

kot izhaja iz dokumentacije v zvezi z oddajo javnega naročila

380000003843000015.1 mesecev

Merila za oddajo

kot izhaja iz dokumentacije v zvezi z oddajo javnega naročila
LOT-0004Oprema za tridimenzionalno karakterizacijo površin, optično slikanje ter elementno analizo materialov

kot izhaja iz dokumentacije v zvezi z oddajo javnega naročila

38000000385100001 mesecev

Merila za oddajo

kot izhaja iz dokumentacije v zvezi z oddajo javnega naročila
LOT-0005Sistem za nano in mikro infrardečo mikroskopijo

kot izhaja iz dokumentacije v zvezi z oddajo javnega naročila

38000000385100008.9 mesecev

Merila za oddajo

kot izhaja iz dokumentacije v zvezi z oddajo javnega naročila

Več obvestil tega naročnika